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Transistor profiling for quantitative evaluation of variability in transistor characteristics due to layout dependent effects (LDEs)

Chikaaki Kodama, Mikiyasu Yamaji, Hiroshi Kitahara, Akira Hokazono,Shigeki Nojima,Piyush Pathak, Kimiko Ichikawa, Jac P. Condella,Michel L. Cote, Ya-Chieh Lai,Philippe Hurat

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